Hvordan vælger man højkvalitets solar silicium wafer?

1. Kig først på udseendet, der må ikke være nogen revner, ingen fejl, ingen huller, ingen skår.
2. Se for det andet på de fysiske indikatorer. Der er mange fysiske indikatorer, herunder krystalorientering, krystalorienteringsafvigelse, type, tykkelse, sidelængde, vinkelret og så videre. Brug de tilsvarende testinstrumenter til at bestemme type, krystalorientering osv.; brug de tilsvarende måleinstrumenter til at måle tykkelse, tolerance, sidelængde og diagonallængde og tolerance, vinkelret osv. af 5 punkter. For solcelleprocessen er det vigtigste Silicium wafer tykkelse og tykkelse variation (TTV), fordi mange solcelle produktionslinjer har krav til silicium wafer tykkelse. Hvis tykkelsen er lavere end minimumsproduktionstykkelsen, vil fragmenteringshastigheden stige, og overskuddet vil blive smidt ind i fragmenterne. Derudover er indholdet af kulstof og ilt meget vigtigt for kvaliteten af ​​siliciumwafers, så der skal udføres stikprøver. Naturligvis vil der normalt ikke være nogen problemer med disse to indikatorer. Hvis der er problemer, vil de blive direkte afspejlet i de elektriske parametre, der er nævnt senere. Indikatoren er inde.
3. Se endelig på de elektriske indikatorer, primært minoritetsbærerens levetid og resistivitet. Kvaliteten af ​​siliciumwafers bestemmes hovedsageligt af disse to indikatorer. For eksempel skal minoritetsbærerens levetid for monokrystallinske siliciumwafere på A-niveau være større end 10μs, og resistiviteten er 0-6Ω.cm.